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APPLICATIONS
> 응용 > 재료
■ Features
* IV (전류 측정을 통한 전압 스캔-전자 및 유전체 재료를 특성화하는 데 사용)
* PE (편광 / 전기장-강유전체 특성을 분석하기 위해 히스테리시스 테스트를 실행하는 데 사용됨)
* High -speed pulse (전자 및 유전체 재료에서 전하 캐리어를 활성화하는 데 사용)
* Staircase and smooth stepless analog ramp waveforms
* 임피던스, 어드미턴스, 유전율 / 커패시턴스, 전기 계수
* CV 커패시턴스-전압, Mott-Schottky
* 시간 영역 및 임피던스 / 커패시턴스 측정의 자동 시퀀싱
■ Applications
* Dielectric Materials
-Ferro/piezoelectrics | MEMs | NEMs| multiferroics | polymers |solid oxides SOFC | ionic conductors | solid electrolytes, quantum dots
* Electronic Materials
-LED | LCD | OLED | MEMs | OPV | Si | DSSC | OFET | Ge | GaAs | Perovskite materials
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AMETEK Solartron | ModuLab XM MTS - Materials Test System |
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제조사 : AMETEK Solartron 제품명 : ModuLab XM MTS - Materials Test System 전기화학 종합 카탈로그 |
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