VANTA iX 인라인 자동화 성분 분석기 (In-line XRF)

Olympus VANTA iX 인라인 X-선 형광 (XRF) 분석기는 제조 라인에서 재료 분석 및 합금 식별을 자동화하여 실시간 공정 모니터링 및 강종 정보 데이터를 실시간으로 확인할 수 있습니다. 또한, pass/fail 결과 및 정확한 강종 정보를 제공하도록 설정이 가능합니다. 

   •   실시간 모니터링 및 100% 검사를 통한 결과 제공 
   •   Pass/Fail 결과 제공 및 정확한 합금 식별 및 성분 분석 
 

Tubes, Bars, Rods 등 금속 제작을 위한 100% 검사 솔루션 

VANTA iX 분석기는 Pass/Fail 분석으로 합금을 검증하기 위해 Industry 4.0 관행과 24/7 공정 제어를 통해 bar, billet, tube, rod 제조를 위한 lot/heat 제어 및 품질 검증을 제공합니다. 
VANTA iX 분석기를 사용하여 테스트를 자동화하면 재료가 100% 테스트되고 검증되는 것을 증명할 수 있으므로 완제품의 정확도에 도움을 줄 수 있습니다. 

Scanning and Monitoring for Ore Grade control in Mining

지질처리 및 채광을 위해 VANTA iX 분석기는 실시간 결과를 통해 코어 스캔 및 벨트 내 분석을 지원하여 공정 변동성을 모니터링하고 광석 등급 일관성을 보장합니다. 벨트 분석 중 분석기는 농축물의 혼합 검증 및 공정 검증을 제공합니다. 

품질 관리를 위한 빠르고 정확한 데이터 분석 

* 고해상도: 경원소 및 중금속을 포함한 합금 등급 식별 
* 빠르고 정확한 결과 제공 

다양한 생산 시스템에 쉽게 통합 

VANTA iX 분석기는 다목적 기능을 가지고 있을 뿐 아니라, 컴팩트하며 설치가 간단합니다. 각 측면의 마운팅 홀을 사용하면 로봇 및 다른 시스템에 쉽게 결합할 수 있습니다. 외부 제어 박스가 없어 VANTA 커넥터 API 또는 PLC로 분석기를 쉽게 제어할 수 있습니다. 

커넥터 옵션 
- Ethernet (RJ-45), enabling power over Ethernet
- USB 
- Discrete I/O (16 pins)
- AUX DC Power

제조 환경의 조건에 맞춘 견고한 솔루션 

생산 설비의 높은 진동, 전자 기기 및 음향 소음, 먼지 및 습기를 견딜 수 있도록 설계되어 신뢰성과 가동시간을 향상 시켰습니다. 

 - 진동테스트 (MIL-STD)
 - IP54 등급
 - 작동온도: -10 - 50℃ (연속 운행 시)
 - 내부 온도를 낮추기 위한 heat sink 내장
 - 추가 쿨링을 윟나 별도의 쿨링 팬 부착 

VANTA iX Specification 

* Dimensions (WxHxD): 10 x 79 x 26.6 cm

* Weight: 2.4 kg

* Excitation Source
   - X-ray tube: Rh or W anode
  - MR model: 8 - 50 keV
  - CW model: 8 - 40 keV

* Primary Beam Filtration: Eight filter positions automatically selected per beam per method

* Detector
  - MR model: Large-Area Silicon drift detector
  - CW model: Standard silicon drift detector 

* Power: Power over Ethernet (PoE) or 18 V power adaptor

*Elemental Range
- Method dependent 
- MR model: Mg - U
- CW model: Ti-U (with standard window and calibration) 

제품 문의